膜厚計探頭
-
- 膜厚計探頭
- SFe-10
- 現貨
- 電詢
產品詳細介紹
類型名稱
SFe-10
SFe-20
測量方法
電磁感應
測量范圍
0-10mm
0-20mm
顯示分辨率
1μm：0～999μm
0.01mm：1～10mm
0.01mm：1～10mm
1μm：0～999μm
0.01mm：1～5mm
0.1mm：5～20mm
0.01mm：1～5mm
0.1mm：5～20mm
測量精度
（垂直于光滑表面測量）
（垂直于光滑表面測量）
0～3mm：±（5μm+示值的3%）
3.01mm以上：示值的±3%以內
3.01mm以上：示值的±3%以內
探測
1點定壓接點式，
φ20.4×47.1mm帶V切
φ20.4×47.1mm帶V切
1點定壓接點式，
φ35×55mm帶V切
φ35×55mm帶V切
配件
標準板、測試用零板（鐵用）
測量對象
用于測量鐵、鋼等磁性金屬基體上較厚的物體
用于測量鐵和鋼等磁性金屬基體上的厚物體