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    SWT-7100III膜厚計

    產品大圖
    • SWT-7100III膜厚計
    • SANKO山高
    • SWT-7100III
    • 日本
    • 現貨
    • 8400
    產品詳細介紹

    SANKO山高SWT-7100III膜厚計

      SWT系列探頭可互換。 

     ◆ 兩用型 : FN-325  

     ◆ 鐵材用 : Fe 系列        

     ◆ 非鐵材 : NFe 系列

    電磁式/渦電流式膜厚計

    SWT-7000Ⅲ/7100Ⅲ   探頭可互換。簡易測量。

    ●可根據用途來選擇探頭。

    ●輕巧簡便。

    ●在LCD畫面上顯示操作的順序指引。

    ●4個按鍵,操作簡單。

    ●可連接電腦進行數據的傳送。(7100Ⅲ

    用    途

    ●涂層/襯層/鍍金

    ●耐酸層等絕緣性皮膜

    規    格

    測量范圍      連接探頭不同而不同(另賣)

    顯示方式       LCD畫面

    檢量線校正     2點校正式

    檢量線存儲     鐵·非鐵各一根

    數據傳送       USB(7100

    電    源       單3電池(1.5V)×2

                   專用電源線(7100Ⅲ

                   附帶自動關機功能

    使用溫度       040C°(不結露)

    尺寸重量       72(W)×30(H)×156(D)mm

                   約210g

     

    附 屬 品      收納袋

                  7100Ⅲ:專用電源線

                          USB連接線、USB軟件

    探    頭      根據測量金屬底材來選擇。

                 ·鐵底材用(Fe)

                 ·非鐵底材用(NFe)

                 ·鐵底材·非鐵底材兩用(FN-325)

                  (請參照專用探頭頁)

     

     

    探測頭型號

    FN-325

    測量方式

    電磁式·渦電流式兩用(鐵·非鐵底材自動識別)

    測量范圍

    鐵底材:03.00mm、非鐵底材:02.50mm

    表示分辨率

    1μm0999μm的切換(鐵·非鐵共通)

          0.1μm0400μm(鐵·非鐵共通)

          0.5μm400500μm(鐵·非鐵共通)

    0.01mm:1.003.00mm(鐵底材)

    0.01mm:1.002.50mm(非鐵底材)

    測量精度

    (平滑表面)

    0100μm:1μm(鐵·非鐵共通)

    或者是指示值的±2%以內

    101μm3.00mm:±2%以內(鐵底材)

    101μm2.50mm:±2%以內(非鐵底材)

    探測部

    1點定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm72g

    選擇產品

    V形探測頭套有3種(φ5以下用、φ510用、φ1020用)

    附屬品

    標準校正板、試驗用零校正板、(鐵用·非鐵用)

    測量對象

    鐵底材:鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、

            電鍍(電解鎳除外)等

    非鐵底材:鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等

              一般較普遍的測量物用

     

    SWT-7000Ⅲ系列機型

    機型

    SWT-7000

    SWT-7100

    SWT-7200

    測量范圍

    連接的探測頭不同測量范圍也不同。

    顯示方式

         液晶顯示LCD(數據·提示信息)、背光燈

    檢量線校正

    2點校正方式(零校正、標準校正)

    檢量線存儲

    鐵、非鐵各1

    10

    測量值存儲

    20,000

    數據傳送

    USB

    USB

    統計功能

    內藏

     

    附加功能

    背光燈   測量模式的切換(普通/連續)   檢量線、校正值的刪除

     ●自動關機功能(約3分以上不操作時,機器會自動關機) 分辨率的切換  

     ●上下限值的設定(SWT-7200

    電源

    3電池 ×2

    3電池 ×2     專用電源線

    使用溫度

    040C°(不結露)

    機體尺寸·重量

    72W×30H×156Dmm 重量 210g

    附屬品

    干電池、收納袋子

    干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件(CD

    追加產品

    鐵材金屬用探測頭(Fe)、非鐵材金屬用探測頭(NFe

    ·非鐵材用探測頭(FN-325

             

     

    SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭1)(Fe

    型號

    Fe-2.5/2.5L

    Fe-2.5LwA

    Fe-0.6Pem

    測量方式

    電磁感應式

    測量范圍

    02.50mm

    0600μm

    表示分解率

    1μm0999μm

    切換

                  0.1μm0400μm

     0.5μm400500μm

                  0.01mm:1.002.50mm

    1μm0600μm

    切換

    0.1μm0400μm

      0.5μm400500μm

     

    測量精度

    (平滑面)

    0100μm:±1μm

    又或者時顯示值的±2%以內

                  101μm2.50mm±2%

    0100μm:±1μm

    又或者時顯示值的±2%以內

    101μm600μm±2%

    探測部

    1點定壓接觸式

    V形口套頭

       2.5φ13×48mm

       2.5L:18×23×67mm

    1點定壓接觸式

    測量部:約20×57mm

    全長:約550 1.550mm

         (伸縮式)

    1點定壓接觸式

          Φ5.6×94mm

    選擇產品

    V形套頭/—

    φ5以下用、φ510用、φ1020用)

    附屬品

    標準校正片

    試驗用零校正板

    (鐵用)

    標準校正片

    試驗用零校正板(鐵用)

    收納袋子

    標準校正片

    試驗用零校正板

            (鐵用)

    測量對象

    ·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層(電解鎳的電鍍層除外)等等

    ·鋼等的磁性金屬底材是哪個的皮膜、襯層等等手不能進去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測量。

    ·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測量。

     

    SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭2)(Fe

    型號

    Fe-10

    Fe-20

    測量方式

    電磁感應式

    測量范圍

    010mm

    020mm

    表示分解率

     

    1μm0999μm

    0.01mm:110mm

     

      1μm0999μm

    0.01mm:15mm

    0.1mm:520mm

    測量精度

    (平滑面)

    03mm±5μm+顯示值的3%

                  3.01mm:顯示值的±3%

    探測部

    1點定壓接觸式

    V形口套頭

    φ18×47mm

    1點定壓接觸式

    V形口套頭

    φ35×59mm

    選擇產品

    附屬品

    標準校正片、試驗用零校正板(鐵用)

    測量對象

    ·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用

    ·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用

     探測頭要根據需要購買。

    SWT-7000Ⅲ系列的非鐵材金屬用探測頭NFe

    型號

    NFe-2.0/NFe-2.0L

    NFe-06

    NFe-8

    測量方式

    渦電流式

    測量范圍

    02.00mm

    0600μm

    08mm

     

    表示分解率

    1μm0999μm

     切換

    0.1μm0400μm

      0.5μm400500μm

      0.01mm:1.002.00mm

    1μm0600μm

     切換

    0.1μm0400μm

     0.5μm400500μm

     

     

    1μm0999μm

    0.01mm18mm

     

     測量精度

    (平滑表面)

    0100μm:±1μm

    又或者時顯示值的

    ±2%以內

    101μm2.00mm

              ±2%以內

    0100μm:±1μm

    又或者時顯示值的

    ±2%以內

    101μm600μm

              ±2%以內

    0100μm:±1μm

    ±±1μm+顯示值的±2%

    101μm8mm

              ±2%以內

     

    探測部

    1點定壓接觸式

    V形口套頭

    2.0φ13×47mm

    2.0L18×23×67mm

    1點定壓接觸式

    V形口套頭

    φ11×48mm

     

    1點定壓接觸式

    V形口套頭

    φ35×61mm

     

    選擇產品

    V形套頭/-

    附屬品

    標準校正片、試驗用零校正板(非鐵用)

    測量對象

    鋁、銅等非磁性金屬底材

    上的絕緣性皮膜等一般普

    通測量物用。

    鋁、銅等非磁性金屬底

    材上的絕緣性皮膜等

    細小的圓棒、細管、小

    物件等的高安定性用。

    鋁、銅等非磁性金屬

    底材上的絕緣性皮膜等

    比較厚的測量物用。

    探測頭要根據需要購買。